i-Chips

1. 受託対象構成、条件

(1) 基板の状態について

• 本サービスの対象となる基板は、JEDEC準拠のDDRメモリを搭載した基板で、DDRメモリと制御デバイス間の配線において、DDRメモリ近傍でオシロスコープをプロービング可能な測定ポイント(又は、プロービング可能なダンピング抵抗等の部品）が存在する基板です（GND側のプロービングも含みます）。
• 測定項目によっては、コマンド系(ADDR/BANK ADDR等)やデータ(DQ)など、DDRメモリ1個に対して複数の信号経路が測定対象になりますので、対象信号経路毎に測定ポイントが必要になります。

(2) DDRメモリへのアクセスについて

• DDRメモリへのアクセス（リード及びライト）のデータ値が、一定期間中に変化している必要があります。
• 何らかの手段により、DDRメモリへのアクセスが、正常にライト/リードできていることを確認できる必要があります。適切でないプロービング等によりアクセスが不正になっている場合、その検出が必要です。
• 本サービスの対象となるDDRメモリクロック速度は、800MHz(1600Mbps)以下です。

2. 測定結果について

(1) 測定結果については、「DDRA」でのレポート出力フォーマットに従い、*.mhtファイルにてご提供致します。なお、測定結果としてご提供可能な規格値としては、以下のものがございます（DDR2での例）

①CLOCK系(差動測定）

• InputSlew-Diff-Fall/Rise(CK)
• tERR(2per),tERR(3per),tERR(4per),tERR(5per)
• tCH(abs),tCH(avg),tCL(abs),tCL(avg)
• tERR(6-10per),tERR(11-50per)
• tCK(abs),tCK(avg)
• VID(ac)
• tJIT(cc),tJIT(per),tJIT(duty)

②CLOCK系(シングルエンド測定)

• AC-Overshoot(CK),AC-Overshoot(CK#)
• AC-UndershootArea(CK),AC-UndershootArea(CK#)
• AC-OvershootArea(CK),AC-OvershootArea(CK#)
• Vix(ac)CK
• AC-Undershoot(CK),AC-Undershoot(CK#)
• VSWING(MAX)CK,VSWING(MAX)CK#

③ADDR/CMD系

• AC-Overshoot,AC-OvershootArea
• Slew Rate-Setup-Fall/Rise(Add/Cmd)
• AC-Undershoot,AC-UndershootArea
• tIH(base),tIH(derated)
• InputSlew-Diff-Fall/Rise(CK)
• tIPW-High,tIPW-Low
• Slew Rate-Hold-Fall/Rise(Add/Cmd)
• tIS(base),tIS(derated)

④DQ/DQS(差動) WRITE Burst

• Data Eye Height, DQ, DQS
• tDS-Diff(base),tDS-Diff(derated)
• Data Eye Width, DQ, DQS
• tDSH-Diff,tDSS-Diff
• InputSlew-Diff-Fall/Rise(DQS), DQS
• Slew Rate-Setup-Fall/Rise(DQ)
• tDH-Diff(base),tDH-Diff(derated)
• Slew Rate-Hold-Fall/Rise(DQ)
• tDQSH,tDQSL
• tWPRE,tWPST
• tDQSS-Dif

⑤DQ/DQS(差動) READ Burst

• Data Eye Height, DQ, DQS
• tQH
• Data Eye Width, DQ, DQS
• tDQSCK
• tAC-Diff
• tRPRE,tRPST
• tDQSQ-Diff

(2) その他、上記測定結果を取得する際の各種条件（周囲温度、電圧、基板シリアルNo、取得信号経路、 ダンピング抵抗値）については、別途テキストファイルもしくはEXCELファイルにてご提供致します。

(3) 各項目の測定結果は、オシロスコープ上のアプリケーションソフトウェア「DDRA」より、ブラウザでご確認頂ける、*.mhtファイル形式でご提供致します。
下図１に、ブラウザでの表示例を抜粋して示します。

図1. 測定結果のブラウザでの表示例（抜粋）

3. 測定結果に関する免責事項

(1) 本サービスは、JEDECで規定されております、DDRメモリの各種規格項目を測定することのみを目的としており、測定した結果により、DDRメモリの動作を保証するものではありません。

(2) 本サービスで測定する各数値は、ご提供頂く基板での最悪値を保証するものではありません。
測定値を取得する時のメモリアクセスしているデータ値や、プロービングの接続状態（プローブ側へのダンピング抵抗値の選択を含む）、メモリアクセス以外の基板上の要因によって数値は変動します。

4. 費用に関して

本サービスの費用は、測定項目数/測定に使用する差動プローブの本数（累積）として算出致します。

費用例（実際の費用は、別途お問い合わせ下さい）